DocID025810 Rev 3

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AN4434

List of tables

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List of tables

Table 1.

Applicable products . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1

Table 2.

CMOS F8H process Automotive devices (-40°C to +145°C) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5

Table 3.

Application cycling profile evaluation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8

Table 4.

Data retention for CMOS F8H process Automotive devices. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10

Table 5.

ECCx4 memories: probability that one word is not correctly read . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13

Table 6.

ECCx1 memories: probability that one byte is not correctly read . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14

Table 7.

MXXxxx-A125/A145 data retention profile evaluation example . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15

Table 8.

Document revision history . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16